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AVR单片机片内RC振荡器频率测试报告

单片机:ATmega8L-8PI,共15个样品(分属两个批号)。
上位机:PC机,主频667MHz。
测试条件:上位机连续发送40个不同字符(子母A-Z,10个数字,@#$%)。单片机接收到一个字符后,在接收中断里立即将该字符发送回上位机。上位机接收到40个字符后与刚才发送的一组40个字符比较无误则认为该组通过测试。每次共测试100组字符(共4000字符),每组发送间隔1秒。
上位机和单片机均设置成8数据位,无校验,2停止位。

测试1: 时钟1MHz,波特率2400和4800。室温22摄氏度。
15片均通过测试,无误码。

测试2: 时钟2MHz,波特率4800和9600。室温22摄氏度。
15片均通过测试,无误码。

测试3: 时钟4MHz,波特率9600和19200。室温22摄氏度。
15片均通过测试,无误码。

测试4: 时钟8MHz,波特率19200和38400。室温22摄氏度。
15片均通过测试,无误码。

测试5: 时钟8MHz,波特率38400。温度计置于芯片侧面,芯片和温度计上面盖一金属片以使温场均匀。用电吹风加热到温度计指示65摄氏度。
仅测试1片。通过测试,无误码。

测试中发现如果上位机设置成1停止位,则连续发送30个左右字符后会丢失一个字符。

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